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| プレス型：製品の特長について（該当製品：1234-00/-01、1107-60/-61） |
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高精度のステップ&リピート検査とインデックステーブルシステムを組み合わせた、固定検査治具を用いた、量産検査用の高速基板検査装置です。
4端子機能を搭載することによりビア保証のための高精度抵抗測定も可能です。 |
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| ベアボードハイテスタ 1236-10/1236-11/1230 |
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ファインピッチパッケージ高速パターン検査
超高速・部品内蔵 基板検査機
- 部品内蔵(EP/EA)基板の電気検査が可能
抵抗(400μΩ〜), コンデンサ(10pF〜)の測定
回路網内の部品を正確に検査
- 内蔵LSIの検査（オプション）
接続信頼性検査・ピン間O/S検査・スタンバイ電流検査
- ダメージを与えない導通・絶縁検査
Max. 150mAの大電流による信頼性の高い導通検査
印加電圧250Vで2GΩまでの絶縁検査
- ニアオープンやマイクロショートなどの豊富な検査検出機能も標準装備
- 1236-10seriesは用途に合わせて, 2種のスキャナボード, 4種の計測ボードの中より最適なシステムを構築可能
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| ベアボードハイテスタ 1233 |
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最大1000 ピースの多面取り、大型基板に対応
ファインピッチ基板の高速パターン検査
- 高精度
- L・C・R・D 測定
- 絶縁試験
- 高速測定
- 多面取り対応 (ステップ&リピート)
- 大型基板対応
- 最大8192 ポイントの検査
- 最大560mm×610mm 基板サイズに対応
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| ベアボードハイテスタ 1232 |
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高精度一括治具式検査装置
- SIM-LINEから生成される理論抵抗値と高精度４端子抵抗測定がパターンの信頼性を保証します
- HIOKIのインサーキットテスタで培われた計測ノウハウにより一歩先の内蔵部品検査を提供します
- 340mm×330mmのワイドワークエリア
- テンションクランプによりフレキ基板も安定して固定できます（0.05mmの薄物基板に対応しています）
- LSI の信頼性検査搭載（EAD 検査）
- 複合部品の分離検査が可能（ガード付きスキャナ使用時）
- 各種部品（抵抗、コンデンサ、インダクタンス、ダイオード、ツェナーダイオード、電圧/ 電流測定、MLCC（積層セラミックコンデンサ）の測定
- MAX150mAの高電流導通検査
- 内蔵部品自動保護付き絶縁検査
- 総合プロービング精度±10μm
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