インサーキットテスタ/ボードテスタ/画像検査装置/検査データ編集機 [基板検査装置] -HIOKI-

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▣ インフォメーション

実装基板検査装置

治具が不要で検査プログラムの変更だけで機種の切替が可能。高精度プロービングと画像処理により、高密度基板に対応しています。

検査する基板の機種ごとに治具を製作します。圧倒的な検査スピードを誇ります。イニシャルコストもかからず、ICT検査のベーシック機です。

当社では高品質の治具を短納期、低価格で提供しております。

ベアボード検査装置

容量方式による高速検査、４端子測定によるIVH、スルーホールの抵抗測定が可能です。大型基板から高密度基板まで対応可能です。

表面の高密度部はフライング、裏面は治具式の両面検査装置です。高速検査でかつ低ランニングコストを実現しました。

検査治具による一括検査で、パッケージから携帯基板などの高密度基板の量産品検査に適しています。

お客様の検査治具に接続可能です。ショート／オープン検査に加え絶縁検査、各種電気検査が可能です。

画像検査装置

高精度検査と高い検査生産性を両立した最終外観検査装置です。
設置面積65％サイズダウン（当社従来機と比較）を実現しました。

独自のカラー画像アルゴリズムを駆使し、プリント基板の外観不良を検出します。サーバー基板・通信基板等多層大判基板の最終外観及びワークボード状態での検査により、レジスト工程後の共通不良の検出等に効果を発揮します。

FE1703は、卓上に置けるコンパクトな筐体ながら、微細な欠陥も検出する最終外観検査装置です。プリント基板の試作品、中量産品の検査に最適なモデルです。

検査データ編集機

端点情報とネット情報を自動生成し、HIOKIフライングテスタ用の電気検査データを出力するCAMシステムです。

電気検査のプローブ間に発生する理論上の抵抗値を算出するシステムです。

部品内蔵基板の製造データから、内蔵部品が関連するNETを抽出し、HIOKIベアボード電気検査機向けの内蔵部品検査データを出力するシステムです。

電気検査装置のエラー情報から、プリント基板の不良解析を支援するシステムです。


※各製品ページに記載の仕様、価格等はお断りなく改正・改定することがありますが、ご了承願います。



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